●精准探测 · 突破极限 · 洞察无形
随着半导体技术的飞速发展，对材料分析和缺陷检测的要求也越来越高。红外显微镜作为一种非破坏性检测工具，在半导体行业中发挥着重要作用。华显光学LM-150红外显微镜，搭载先进红外光谱技术，以非侵入式、高灵敏度检测能力，让不可见变为可见，解锁物质成分、结构及动态的深层奥秘。
工作原理
✅光源发射：红外光源发射出特定波长的红外光。
✅样品照射：红外光穿透样品，与样品内部结构相互作用。
✅信号接收：探测器接收透过样品的光信号。
✅ 图像生成：通过计算机处理，生成样品的红外图像。
核心优势
✅ 高灵敏度成像：突破光学衍射极限，纳米级分辨率呈现微观结构与化学成分分布。
✅ 非破坏性检测：无需复杂制样，保持样品原始状态，尤其适合珍贵或敏感样本。
✅ 智能分析系统：AI辅助光谱解析，一键生成成分图谱，科研效率提升50%+。
✅ 广泛适用性：支持固体、液体、薄膜等多种形态样品，兼容反射、透射及ATR模式。
常规可见光显微镜图像 LM-150 IR 红外无损穿透
应用场景
✅ 材料科学：高分子材料缺陷分析、半导体器件微区成分检测
✅ 生物医学：细胞代谢成像、药物分布可视化、病理组织快速筛查
✅ 环境监测：微塑料识别、污染物溯源、土壤矿物成分鉴定
✅ 文物保护：古画颜料分析、文物修复无损评估
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