导电粒子检测解决方案
TFT-LCD压痕导电粒子检测
一、作业背景
我们使用的手机大部分都是TFT-LCD屏幕。在T-LCD屏的生产过程有一系列的工艺流程下图(a)是切割好的F-CD屏幕，尚未连接外部电路: (b) 是驱动电路IC: (c) 是排线FPC.外部电路连接方法是通过将屏幕与电路对准，然后加压、加热将驱动电路和排线上的引脚压制到玻璃上。
在电路压制过程中会产生凸起的导电球压痕颗粒(如下图所示)路连接性越好。
在生产过程中，由于工艺控制存在误差，往往会导电粒F不够明显，进而产生不良产品。
导电粒子压榨痕迹的样子和大小是按照压榨程度变更，用压痕一般显微镜可以看阳刻和阴刻的差异可以测定压差程度。正常被压榨的导电粒子痕迹是会明显看出阳刻和阴刻，但是比较经纬或者过分压榨的导电粒子痕迹是不会明显看出阳刻和阴刻。DIC微分干涉显微镜高清HDMI 200万像素数码成像系统，可以高倍检测TFT触摸屏ITO上导电粒子压合及数量。
检测要求：
对TFT触摸屏ITO上导电粒子压合及数量进行检测。
检测难度：
压痕过浅、高倍检测不够清晰
案例效果图：
广泛应用于:
各大液晶面板生产企业 液晶面板工艺研究部门液晶面板
QA部门
手机、数码相机面板生产企业.