BGA焊接不良检测_金相分析

 半导体 / 集成电路     |      2018-11-10

BGA焊接不良检测超清金相显微镜

BGA焊接不良检测---
                 在SMT贴片生产流程中,对PCB板在焊接过程中变形,BGA本体在焊接过程中变形,造成融化时相互接触不到,造成漏焊,虚焊,桥连,空洞等不良现象,目前采用制作切片标本,研磨抛光,再用高倍金相显微镜进行放大观察。较传统的金相显微,在目视以及视频采集软件上,通过放大倍数超过500倍,将其中一个焊接点放大后研判,而BGA切片样品,通常有好几个甚至是多达几十个焊接点,从第一个到最后一个,未能实现在一张图片上进行说明,对于工艺的连贯性而言,缺少了追溯的判断。


 深圳华显光学提供BGA焊接不良检测解决方案!


BGA焊接点高倍显微镜放大观察;1个焊接点)

华显光学于9月份推出超清金相系列,采用2000万像素,实时15/fps 图像传输,更具备实时拼接功能,可在光学物镜50或者100倍的情况下,对被检测产品进行平面图像拼接。



(图片来自华显光学EOC系列超清金相显微镜--10X物镜全景拼接
将整个BGA切片金相分析样品全景扫描合成后,从第一个到第N个,一个不漏的拍摄存储,为用户分析其工艺提供样品全景分析和追溯。



(电脑操作界面)



(20X物镜拍摄全景图,支持图片浏览放大模式)


深圳华显光学公司超清金相系列,具备明暗场照明系统,无限远平场消色差光学物镜,

配置智能显微成像系统,无论是目视,视频放大,测量,都能让品质分析轻松简便。



如用户需要对失效分析进行测试,可将样品寄送我司实验室(深圳/昆山);华显光学实验室从镜头,精密测量设备,智能检测运用,一站式为用户提供光学解决方案


超景深合成

深圳华显光学实验室,BA301金相显微镜 光通信超级绑定线合成"实时"图像拼接


      作中由于普通显微镜景深太小,难以对某些有纵向深度的痕迹进行观察,采用景深合成能有效的解决景深不足的问题,使用BA301met金相显微镜(明暗场显微检测系统在500倍下对铜丝断面进行高倍率景深合成,可输出一张500倍放大的景深达20mm的超景深痕迹图像_BGA焊接不良检测
             因拍摄视野有限,以往为获取大视野图像,需对多张不同位置的静态图像进行后期处理,操作同样麻烦。EOCMosaic2.0突破了"实时图像拼接"的关键技术,摆脱显微视野和相机感光面的束缚,移动载物台的同时即可生成拼接图像_BGA焊接不良检测只需一键点击,即刻享受无限视野边界的震撼体验!


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