切片制样流程及检测方法

 半导体 / 集成电路     |      2018-12-14



电路板品质的好坏、问题的发生与解决、制程改进的评估,在都需要切片做为客观检查、研究与判断的根据。切片质量的好坏,对结果的判定影响很大。

切片分析主要用于检查 POB 内部走线厚度、层数,通孔孔径大小,通孔质量观察,用于检查PCBA焊点内部空洞,界面结合状况,润湿质量评价等等。切片分析是进行PCB/PCBA 失效分析的重要技术,切片质量将直接影响失效部位确认的准确性

切片是用特制液态树脂将样品包裹固封,然后进行研磨抛光的一种制样方法,检测流程包括取样、固封、研磨、抛光、最后提供形貌照片、开裂分层大小判断或尺寸等数据。

目的:电子元器件表面及内部缺陷检查及SMT制程改善&验证。

适用范围  适用于电子元器件结构剖析,PCBA焊接缺陷,焊点上锡形态及缺陷检测等。

使用仪器:精密切割机,镶埋机,研磨及抛光机,金相显微镜,电子显微镜等。

测试流程:取样     镶埋      研磨     抛光     观察拍照

常规检验项目及标准:IPC-TM-650 2.1.1 E 05/04

1.PCB结构缺陷:PCB分层,孔铜断裂等

2.PCBA焊接质量检测:

a.BGA空焊,虚焊,孔洞,桥接,上锡面积等;

b.产品结构剖析:电容与PCB铜箔层数解析,LED结构剖析,电镀工艺分析,材料内部结构缺陷等;

c.微小尺寸量测(一般大于1um):气孔大小,上锡高度,铜箔厚度等。

主要用途

是一种观察样品截面组织结构情况的最常用的制样手段,

1、切片后的样品常用立体显微镜或者金相测量显微镜观察;

2、切片后的样品可以用于SEM/EDS扫描电镜与能谱观察形貌与分析成份;

3、作完无损检测如x-raySAM的样品所发现的疑似异常开裂、异物嵌入等情况,可以用切片的方法来观察验证;

4、切片后的样品可以与FIB联用,做更细微的显微切口观察。

切片技术主要是一种用于检查电子组件、电路板或机构件内部状况、焊接状况的分析手段。通常采用研磨的方法,使内部结构或缺陷暴露出来。


PCB产品切片分析

典型图片

通孔切片图片

绿油层厚度测试图片(200x)



板面铜箔厚度测试图(200x)


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