电容屏ITO检测解决方案_金相显微镜

 半导体 / 集成电路     |      2018-09-30


电容屏ITO检测解决方案

                                                             技术人员:深圳华显光学

                                                   实验日期:2018/8/7

                                                    联系方式:0755-81753034



      检测要求:

    电容屏ITO线路检测,是否有腐蚀、断痕、短路等不良情况;

      技术分析:

  需要采用同轴光源照射的方式,针对电容屏内部ITO线路观察;由于ITO线路较小,普通常规显微镜很难观察得到,所以需要采用金相高倍放大观察;





    产品技术规格




总放大率

50X~500X(选购100X物镜,最高放大率为1000X)

目镜

平场大视场,高眼点10X(FN20),视度可调节

物镜

无限远长工作距离平场物镜5X/0.13,10X/0.30,20X/0.40,50X/0.55,(选购100X/0.80)

观察筒

铰链式双目镜筒30°;铰链式三目镜筒30°倾斜(分光比:20:80)

双目镜筒瞳距

55~75mm

样品最大厚度

30mm

物镜转换器

内定位五孔物镜转换器

粗微动调焦装置

粗微同轴调焦,粗动调焦总行程30mm,微动调焦0.2mm /转,0.002mm / 格。

机械移动载物台

独特的三层载物台设计,大面积:180X140mm;行程:75X50mm;X、Y方向同轴调节。

照明

同轴落射照明系统12V/50W卤素灯

滤色片

磨砂玻璃、蓝色滤色片、黄色滤色片、绿色滤色片

扩展功能

拥有良好的扩充升级空间,不仅具备传统金相显微镜观察功能,还能进行显微摄影、摄像功能,偏光观察功能


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