产品简介:
E-T100系列是华显光学全新推出PCB行业专用的线宽线距测量设备,采用EOC高解析光学系统,
配置高解析1920X1080分辨率,HDMI实时传输,全屏高清成像;具备框选寻边,可输入公差
自动判定功能。
专注于线宽线距尺寸精准量测,重复测量精度0.002mm,平均(500ms/次)检测点位,极大
提高了用户在PCB检测运用中的精准度和生产效率;该机型支持图像存储,数据导出,MES数
据追溯链接。
参数规格:
技术参数表 |
数量 |
|
光学系统 |
EOC光学系统,自动变倍范围:0.7X-4.5X |
1套 |
|
工作距离:85mm |
|
|
光学变倍比:1:7 |
|
|
白光无影照明系统(LED高亮可调) |
|
成像系统 |
1920X1080分辨率 |
1套 |
|
实时60/fps |
|
|
HDMI高清传输 |
|
|
21.5寸高清LCD显示器 |
|
软件功能 |
线宽线距自动测量功能 |
1套 |
|
尺寸公差自动判定功能 |
|
|
手动二维平面尺寸量测功能 |
|
|
测量精度: ±2um |
|
|
重复测量精度:2um |
|
|
U盘存储(支持GIGE传输) |
|
结构 |
研磨级大理石台面 |
1组 |
框架 |
金属方通框架 |
1组 |
重量 |
160Kg |
|
外形尺寸 |
1200mmX1300mmX773mm |
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产品简介:
E-T100系列是华显光学全新推出PCB行业专用的线宽线距测量设备,采用EOC高解析光学系统,
配置高解析1920X1080分辨率,HDMI实时传输,全屏高清成像;具备框选寻边,可输入公差
自动判定功能。
专注于线宽线距尺寸精准量测,重复测量精度0.002mm,平均(500ms/次)检测点位,极大
提高了用户在PCB检测运用中的精准度和生产效率;该机型支持图像存储,数据导出,MES数
据追溯链接。
参数规格:
技术参数表 |
数量 |
|
光学系统 |
EOC光学系统,自动变倍范围:0.7X-4.5X |
1套 |
|
工作距离:85mm |
|
|
光学变倍比:1:7 |
|
|
白光无影照明系统(LED高亮可调) |
|
成像系统 |
1920X1080分辨率 |
1套 |
|
实时60/fps |
|
|
HDMI高清传输 |
|
|
21.5寸高清LCD显示器 |
|
软件功能 |
线宽线距自动测量功能 |
1套 |
|
尺寸公差自动判定功能 |
|
|
手动二维平面尺寸量测功能 |
|
|
测量精度: ±2um |
|
|
重复测量精度:2um |
|
|
U盘存储(支持GIGE传输) |
|
结构 |
研磨级大理石台面 |
1组 |
框架 |
金属方通框架 |
1组 |
重量 |
160Kg |
|
外形尺寸 |
1200mmX1300mmX773mm |
参数规格:
技术参数表 |
数量 |
|
光学系统 |
EOC光学系统,自动变倍范围:0.7X-4.5X |
1套 |
|
工作距离:85mm |
|
|
光学变倍比:1:7 |
|
|
白光无影照明系统(LED高亮可调) |
|
成像系统 |
1920X1080分辨率 |
1套 |
|
实时60/fps |
|
|
HDMI高清传输 |
|
|
21.5寸高清LCD显示器 |
|
软件功能 |
线宽线距自动测量功能 |
1套 |
|
尺寸公差自动判定功能 |
|
|
手动二维平面尺寸量测功能 |
|
|
测量精度: ±2um |
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|
重复测量精度:2um |
|
|
U盘存储(支持GIGE传输) |
|
结构 |
研磨级大理石台面 |
1组 |
框架 |
金属方通框架 |
1组 |
重量 |
160Kg |
|
外形尺寸 |
1200mmX1300mmX773mm |